Il y a quelques semaines, j'ai donc mis à jour vers 17h10 et à peu près au même moment, j'ai mis à jour Android Studio 3. C'était probablement une erreur de mettre à jour les deux, car je ne sais pas où est le problème.
Fondamentalement, il semble que le disque IO soit devenu vraiment mauvais. Au début, j’ai remarqué que j’échangeais donc j’ai doublé mon bélier (32 concerts maintenant) et je n’échange plus jamais. Mais la machine se bloque quand le disque IO se produit. Par gels, je veux dire que ça va devenir très lent, au point que je peux taper et que je ne verrai pas ce que je tape pendant quelques secondes, souvent, je vais avoir une longue chaîne de touches lorsque cela se produit.
Quand je vais valider mon code, Android Studio effectuera une analyse du code et l'interface utilisateur se fige alors qu'elle le fait. Prend quelques secondes. Aucun de ces problèmes ne se produisait avant la mise à jour des deux choses.
En outre, lorsque la sauvegarde de la station cloud s'exécute sur mon NAS, elle devient ridiculement lente.
J'ai un Samsung SSD 850 PRO 512GB
SSD.
Alors, que puis-je courir pour voir quel est le problème?
Merci.
Modifier:
Sortie Smartctl:
smartctl 6.6 2016-05-31 r4324 [x86_64-linux-4.13.0-16-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-16, Bruce Allen, Christian Franke, www.smartmontools.org
=== START OF INFORMATION SECTION ===
Model Family: Samsung based SSDs
Device Model: Samsung SSD 850 PRO 512GB
Serial Number: S250NSAG809789J
LU WWN Device Id: 5 002538 8a0af305f
Firmware Version: EXM02B6Q
User Capacity: 512,110,190,592 bytes [512 GB]
Sector Size: 512 bytes logical/physical
Rotation Rate: Solid State Device
Device is: In smartctl database [for details use: -P show]
ATA Version is: ACS-2, ATA8-ACS T13/1699-D revision 4c
SATA Version is: SATA 3.1, 6.0 Gb/s (current: 6.0 Gb/s)
Local Time is: Tue Nov 28 16:22:20 2017 CST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x00) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: ( 0) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x53) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
No Offline surface scan supported.
Self-test supported.
No Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 272) minutes.
SCT capabilities: (0x003d) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 100 100 010 Pre-fail Always - 0
9 Power_On_Hours 0x0032 095 095 000 Old_age Always - 23126
12 Power_Cycle_Count 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 75
177 Wear_Leveling_Count 0x0013 098 098 000 Pre-fail Always - 117
179 Used_Rsvd_Blk_Cnt_Tot 0x0013 100 100 010 Pre-fail Always - 0
181 Program_Fail_Cnt_Total 0x0032 100 100 010 Old_age Always - 0
182 Erase_Fail_Count_Total 0x0032 100 100 010 Old_age Always - 0
183 Runtime_Bad_Block 0x0013 100 100 010 Pre-fail Always - 0
187 Uncorrectable_Error_Cnt 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 0
190 Airflow_Temperature_Cel 0x0032 070 057 000 Old_age Always - 30
195 ECC_Error_Rate 0x001a 200 200 000 Old_age Always - 0
199 CRC_Error_Count 0x003e 100 100 000 Old_age Always - 0
235 POR_Recovery_Count 0x0012 099 099 000 Old_age Always - 34
241 Total_LBAs_Written 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 37060089586
SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged
SMART Self-test log structure revision number 1
No self-tests have been logged. [To run self-tests, use: smartctl -t]
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
df -i sortie:
Filesystem Inodes IUsed IFree IUse% Mounted on
udev 4096227 613 4095614 1% /dev
tmpfs 4111096 1024 4110072 1% /run
/dev/sda1 29908992 4301747 25607245 15% /
tmpfs 4111096 524 4110572 1% /dev/shm
tmpfs 4111096 5 4111091 1% /run/lock
tmpfs 4111096 18 4111078 1% /sys/fs/cgroup
tmpfs 4111096 17 4111079 1% /run/user/122
tmpfs 4111096 458 4110638 1% /run/user/1000
/home/mydir/.Private 29908992 4301747 25607245 15% /home/mydir
Installez tilitaire de disque Gnome et vérifiez les tests de décompte d'usure et de nivellement SMART Données ou similaires.
Plus le pourcentage indiqué est élevé, plus votre SSD est usé, ce qui signifie que vous êtes plus susceptible de rencontrer des problèmes.
Installez en utilisant:
apt-get install gnome-disk-utility
Lancer en ligne de commande
Sudo palimpsest
ou via le menu de l'application sous le nom tilitaire de disque.
Edit: en ce qui concerne le fait que j'ai oublié, tout le monde ne le saurait pas: les données normalisées intelligentes décomptent pas haut!
La commande spécifique que vous recherchez est probablement:
# smartctl -a /dev/sda | grep Media_Wearout_Indicator
plus il est élevé, plus vous aurez de problèmes . en passant, je recommanderais d'envisager de remplacer votre disque après cette frappe:
50% - disques critiques pour la mission (choses qui, pour des raisons hors du champ d’application, sont NÉCESSAIRES pour être accessibles peu importe ce que .)
30% - votre lecteur/home (vos films/musique/fichiers personnels, choses que vous tenez à avoir sous la main)
20% tout le reste (les lecteurs mis en ligne uniquement pour les sauvegardes avant d'être affectés au stockage à froid, les lecteurs qui contiennent des systèmes d'exploitation que vous n'utilisez que de temps en temps, etc.)
Selon la sortie de votre journal, vous n’avez jamais exécuté de test intelligent sur le lecteur. Vous pouvez le faire de différentes manières. Un moyen est via l'interface graphique comme décrit dans ma réponse ici.
Une autre méthode consiste à envoyer la commande via la ligne de commande comme décrit dans la réponse ici
Les résultats des tests sont ajoutés au journal, comme indiqué dans l'extrait de résultat de la commande Sudo smartctl -a /dev/sda
ci-dessous de mon disque dur SSD Toshiba THNSNH128GBST:
SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged
SMART Self-test log structure revision number 1
Num Test_Description Status Remaining LifeTime(hours) LBA_of_first_error
# 1 Short offline Completed without error 00% 14965 -
# 2 Short offline Completed without error 00% 1955 -
# 3 Short offline Completed without error 00% 701 -