Mon SSD a maintenant 226 secteurs défectueux. Est-ce important?
Ubuntu 13.04. Le nombre de secteurs défectueux sur mon disque SSD a régulièrement augmenté jusqu'à 226 secteurs défectueux aujourd'hui.
Le fait est que je ne sais pas si 226 secteurs défectueux représentent 0,0001% du SSD, 1% du SSD ou 99% du SSD.
Je n'ai rien trouvé sur Internet ce matin pour répondre à cette question.
L'utilitaire Disks ne me le dit pas non plus et je ne trouve pas les informations dans SMART Data.
Sudo smartctl -a /dev/sda montre ceci:
smartctl 5.43 2012-06-30 r3573 [x86_64-linux-3.8.0-31-generic] (local build)
Copyright (C) 2002-12 by Bruce Allen, http://smartmontools.sourceforge.net
=== START OF INFORMATION SECTION ===
Device Model: Samsung SSD 840 PRO Series
Serial Number: S1ATNEAD645474H
LU WWN Device Id: 5 002538 5503c15c0
Firmware Version: DXM05B0Q
User Capacity: 256,060,514,304 bytes [256 GB]
Sector Size: 512 bytes logical/physical
Device is: Not in smartctl database [for details use: -P showall]
ATA Version is: 8
ATA Standard is: ATA-8-ACS revision 4c
Local Time is: Fri Jan 24 20:37:08 2014 CST
SMART support is: Available - device has SMART capability.
SMART support is: Enabled
=== START OF READ SMART DATA SECTION ===
SMART overall-health self-assessment test result: PASSED
General SMART Values:
Offline data collection status: (0x00) Offline data collection activity
was never started.
Auto Offline Data Collection: Disabled.
Self-test execution status: ( 0) The previous self-test routine completed
without error or no self-test has ever
been run.
Total time to complete Offline
data collection: (53956) seconds.
Offline data collection
capabilities: (0x53) SMART execute Offline immediate.
Auto Offline data collection on/off support.
Suspend Offline collection upon new
command.
No Offline surface scan supported.
Self-test supported.
No Conveyance Self-test supported.
Selective Self-test supported.
SMART capabilities: (0x0003) Saves SMART data before entering
power-saving mode.
Supports SMART auto save timer.
Error logging capability: (0x01) Error logging supported.
General Purpose Logging supported.
Short self-test routine
recommended polling time: ( 2) minutes.
Extended self-test routine
recommended polling time: ( 20) minutes.
SCT capabilities: (0x003d) SCT Status supported.
SCT Error Recovery Control supported.
SCT Feature Control supported.
SCT Data Table supported.
SMART Attributes Data Structure revision number: 1
Vendor Specific SMART Attributes with Thresholds:
ID# ATTRIBUTE_NAME FLAG VALUE WORST THRESH TYPE UPDATED WHEN_FAILED RAW_VALUE
5 Reallocated_Sector_Ct 0x0033 097 097 010 Pre-fail Always - 238
9 Power_On_Hours 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 1331
12 Power_Cycle_Count 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 341
177 Wear_Leveling_Count 0x0013 097 097 000 Pre-fail Always - 75
179 Used_Rsvd_Blk_Cnt_Tot 0x0013 097 097 010 Pre-fail Always - 238
181 Program_Fail_Cnt_Total 0x0032 097 097 010 Old_age Always - 238
182 Erase_Fail_Count_Total 0x0032 100 100 010 Old_age Always - 0
183 Runtime_Bad_Block 0x0013 097 097 010 Pre-fail Always - 238
187 Reported_Uncorrect 0x0032 100 100 000 Old_age Always - 0
190 Airflow_Temperature_Cel 0x0032 067 062 000 Old_age Always - 33
195 Hardware_ECC_Recovered 0x001a 200 200 000 Old_age Always - 0
199 UDMA_CRC_Error_Count 0x003e 099 099 000 Old_age Always - 1
235 Unknown_Attribute 0x0012 099 099 000 Old_age Always - 128
241 Total_LBAs_Written 0x0032 099 099 000 Old_age Always - 33308592070
SMART Error Log Version: 1
No Errors Logged
SMART Self-test log structure revision number 1
No self-tests have been logged. [To run self-tests, use: smartctl -t]
SMART Selective self-test log data structure revision number 1
SPAN MIN_LBA MAX_LBA CURRENT_TEST_STATUS
1 0 0 Not_testing
2 0 0 Not_testing
3 0 0 Not_testing
4 0 0 Not_testing
5 0 0 Not_testing
255 0 65535 Read_scanning was never started
Selective self-test flags (0x0):
After scanning selected spans, do NOT read-scan remainder of disk.
If Selective self-test is pending on power-up, resume after 0 minute delay.
Il est finalement apparu que le Samsung 840 Pro SSD avait une défaillance catastrophique plus tard en 2014. Il a été remplacé sous garantie par le Samsung 850 Pro, qui fonctionne maintenant depuis et ne génère toujours pas de rapport tous mauvais secteurs. Cela me fait plaisir, car je pensais que c'était peut-être une "fonctionnalité non documentée" des disques SSD.
Les données intelligentes de notre disque SSD indiquent que vous avez utilisé le disque SSD pendant 13 h 31 et que votre disque SSD a subi 33308592070 * 512/1024 ^ 4 = 15,5 TiB en écriture. Cela signifie que ca. 12 GiB écrit par heures de fonctionnement sur votre SSD. C'est un peu pour une utilisation typique d'un SSD grand public. Pour quoi utilisez-vous le SSD?
Vous êtes encore bien en dessous de la limite de cycle d'écriture de votre disque SSD, qui est basée sur MLC, vous devriez donc tolérer ca. 3000 cycles d'écriture, ce qui voudrait dire ca. 256 Go * 3000 = 768 TB écrit. Donc, je dirais que vous êtes en sécurité.
Mais vos données SMART montrent que vous avez déjà 238 secteurs réaffectés (en échec). Ce nombre est encore très faible comparé aux quelques centaines de millions de secteurs de votre lecteur, mais pour moi, il est étonnant qu’après 60 à 70 cycles d’écriture seulement, votre SSD ait des blocs défaillants. Avez-vous de la place sur votre SSD? Les SSD ont besoin d’un espace libre pour pouvoir gérer efficacement l’usure du lecteur. Si le lecteur est presque plein, il s'use plus rapidement en raison de l'écriture accrue de l'algorithme de nivellement d'usure.
Here est un graphique représentant un disque SSD en écriture pour 840 PRO 256 Go. Il a toujours zéro, ou très proche de zéro secteurs réaffectés après 300 TB écrit. Vous en avez plus de 200 après moins de 20 TB.
Vous utilisez le dernier micrologiciel du lecteur. Je ne veux pas vous inquiéter, mais je pense que vous devriez contacter Samsung avec cette sortie SMART et lui demander son avis. Je pense que votre lecteur a une sorte de problème.
MISE À JOUR:
Après la réponse de Samsung - qui a essentiellement dit que tout va bien -, je dirais que tant que vous ne rencontrez pas de perte de données (c'est-à-dire tant que les badblocks sont découverts lors d'une opération d'écriture), je pense que vous ne devriez pas vous inquiéter alors.
Vous pouvez voir le nombre de badblocks dans la ligne Runtime_bad_block (238, la valeur brute) correspondant à la somme de Program_Fail_Cnt_Total (238). , qui sont les opérations d’écriture ayant échoué) le Erase_Fail_Count_Total (0, qui correspond aux opérations d’échec avec effacement) et les opérations de lecture ayant échoué. Par conséquent, les opérations de lecture ayant échoué sur votre lecteur au moment de la génération de la sortie intelligente sont 238-238-0 = 0, vous n'avez donc aucune lecture ayant échoué, aucune perte de données.
Si votre lecteur commence à rencontrer des erreurs de lecture dans un proche avenir (cela signifie que le Runtime_bad_block ne sera pas égal à Program_Fail_Cnt_Total + Erase_Fail_Count_Total ), perte de données potentielle, je recontacterais Samsung. En attendant, profitez de votre disque SSD.